×
模态框（Modal）标题
在这里添加一些文本
关闭
关闭
提交更改
取消
确定并提交
×
模态框（Modal）标题
×
Old Version
English
Toggle navigation
AiM
2025年7月28日 星期一
首页
期刊简介
编委会
目标和范围
新闻
联系我们
English
Integrated color defect detection method for polysilicon wafers using machine vision
Zai-Fang Zhang,Yuan Liu,Xiao-Song Wu,Shu-Lin Kan
Integrated color defect detection method for polysilicon wafers using machine vision
Zai-Fang Zhang,Yuan Liu,Xiao-Song Wu,Shu-Lin Kan
Advances in Manufacturing . 2014, (
4
): 318 -326 . DOI: 10.1007/s40436-014-0095-9
